產品詳情
簡單介紹：
具有高照度、高均勻性和緊湊外殼的直偽同軸落射照明
使用半鏡，可以在垂直于相機軸的軸上進行照射和成像。
與IFVA相比，可以減少高度方向的空間，實現節(jié)省空間。
由于可以使用鏡面反射進行檢查，因此對于檢查表面上的細小劃痕、印刷和字符檢查非常有效。
它可用于廣泛的應用，例如電路板圖案檢查和連接器引腳間距測量。
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